當(dāng)前位置：首頁(yè) > 技術(shù)文章 > OLympus/45MG

OLympus/45MG

更新時(shí)間：2013-07-31 點(diǎn)擊次數(shù)：2484

45MG儀器是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的超聲測(cè)厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測(cè)厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測(cè)厚應(yīng)用。

深圳市偉峰儀器儀表有限公司

手機(jī)；殷正偉

；

地址；深圳市寶安區(qū)沙井新沙路51號(hào)豐盛大廈1407

標(biāo)準(zhǔn)功能

45MG儀器在使用基本配置時(shí)，是一款易懂易學(xué)、操作簡(jiǎn)便的測(cè)厚儀，操作人員經(jīng)過(guò)zui基本的培訓(xùn)，就可完成zui常用的測(cè)厚應(yīng)用。不過(guò)，45MG儀器添加了可選軟件選項(xiàng)和探頭后，就會(huì)變成一款極為的測(cè)厚儀，可以進(jìn)行典型的初級(jí)儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項(xiàng)可以在購(gòu)買(mǎi)儀器時(shí)分別購(gòu)買(mǎi)，或在日后需要時(shí)購(gòu)買(mǎi)。

與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進(jìn)行測(cè)量
zui小值/zui大值模式
兩個(gè)報(bào)警模式
差值模式
時(shí)基B掃描
縮減率
增益調(diào)整（標(biāo)準(zhǔn)、高、低）
密碼式儀器鎖定

帶有可選橡膠保護(hù)套和支架的45MG儀器

可選功能

只需幾次按鍵，即可完成從簡(jiǎn)單腐蝕測(cè)厚儀到多功能測(cè)厚儀的華麗變身。45MG測(cè)厚儀提供需密碼激活的5個(gè)軟件選項(xiàng)，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途zui廣泛的測(cè)厚儀行列。

回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項(xiàng)，儀器屏幕上會(huì)顯示金屬的實(shí)際厚度，而涂層的厚度會(huì)被忽略。穿透涂層選項(xiàng)測(cè)量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí)，無(wú)需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶： 這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進(jìn)行非常的厚度測(cè)量。這個(gè)選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進(jìn)行厚度測(cè)量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲(chǔ)和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個(gè)選項(xiàng)包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時(shí)A掃描： 用戶使用這個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式，可以在測(cè)厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱(chēng)A掃描），核查厚度測(cè)量讀數(shù)，對(duì)增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中zui大限度地增強(qiáng)測(cè)量性能。這個(gè)極為有益的選項(xiàng)包含手動(dòng)增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、*回波空白、范圍及延遲參數(shù)。

抵御惡劣環(huán)境的能力

堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
爆炸性氣氛：可在國(guó)家防火協(xié)會(huì)規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級(jí)2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試。
防撞擊測(cè)試：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
防振動(dòng)測(cè)試：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試，一般暴露：每軸1小時(shí)。
寬泛的操作溫度范圍
可選的帶有支架的橡膠保護(hù)套

室內(nèi)顯示設(shè)置，可選A掃描模式

簡(jiǎn)便操作的設(shè)計(jì)理念

可只用右手或左手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)
可直接訪問(wèn)大多數(shù)功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面
使用內(nèi)置MicroSD存儲(chǔ)卡和可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡的存儲(chǔ)方式
USB通訊端口
可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置（可選）
密碼保護(hù)方式的儀器鎖定
彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有的清晰度

室外顯示設(shè)置，可選A掃描模式

45MG的技術(shù)規(guī)格

測(cè)量
雙晶探頭測(cè)量模式	從激勵(lì)脈沖后的延遲到*個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。
自動(dòng)回波到回波（可選）	在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測(cè)量（可選）	利用單個(gè)底面回波，測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭）
單晶探頭測(cè)量模式（可選）	模式1：激勵(lì)脈沖與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。模式2：延遲塊回波與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭）模式3：在激勵(lì)脈沖之后，位于*個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。
厚度范圍	0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測(cè)量zui全的范圍需要使用單晶選項(xiàng)）
材料聲速范圍	0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可選擇）	低分辨率：0.1毫米（0.01英寸）標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米（0.001英寸）單晶選項(xiàng)：0.001毫米（0.0001英寸）
探頭頻率范圍	標(biāo)準(zhǔn)：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項(xiàng)）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

一般規(guī)格
操作溫度范圍	-10 °C～50 °C（14 °F～122 °F）
鍵盤(pán)	密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤(pán)，帶有觸感及聲音反饋
機(jī)殼	防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼，機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
外型尺寸（寬 x 高 x 厚）	總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm
重量	430.9克
電源	3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng)
電池工作時(shí)間	3節(jié)AA堿性電池：20到21小時(shí) 3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時(shí) 3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時(shí)
標(biāo)準(zhǔn)	設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)

顯示
彩色透反QVGA顯示	液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
檢波	全波、RF波、正半波、負(fù)半波（波形選項(xiàng)）

輸入/輸出
USB	2.0從接口
存儲(chǔ)卡	zui大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡

內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選）
數(shù)據(jù)記錄器	45MG通過(guò)USB或MicroSD卡識(shí)別、存儲(chǔ)、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量	475000個(gè)厚度測(cè)量讀數(shù)，或20000個(gè)帶厚度值的波形
文件名稱(chēng)和ID編碼	32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼
文件結(jié)構(gòu)	6個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)
報(bào)告	機(jī)載報(bào)告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)和zui小值/zui大值

標(biāo)準(zhǔn)配置

45MG數(shù)字式超聲測(cè)厚儀
AA堿性電池
2階試塊和耦合劑
USB線纜
用戶手冊(cè)，存于CD盤(pán)上
測(cè)量功能：zui小值/zui大值模式、兩個(gè)報(bào)警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能

軟件選項(xiàng)

45MG-SE （U8147022）：單晶選項(xiàng)，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-HP （U8147023）：單晶高穿透選項(xiàng)，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-EETC （U8147021）：回波到回波和穿透涂層
45MG-WF （U8147019）：波形選項(xiàng)
45MG-DL （U8147020）：內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器，包含GageView接口程序

選購(gòu)附件

MICROSSD-ADP-2GB （U8779307）： 2 GB外置MicroSD存儲(chǔ)卡
45MG-RPC （U8779676）： 帶支架的橡膠保護(hù)套

45MG測(cè)厚儀提供需密碼激活的5個(gè)軟件選項(xiàng)，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途zui廣泛的測(cè)厚儀行列。

回波到回波/穿透涂層
單晶
單晶高穿透
數(shù)據(jù)記錄器
帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時(shí)A掃描

回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)

回波到回波

測(cè)厚儀使用多個(gè)底面回波，顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：

自動(dòng)回波到回波
手動(dòng)回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項(xiàng)），可進(jìn)行以下操作：
- 增益調(diào)整
- 擴(kuò)展空白
- 回波空白

穿透涂層技術(shù)

使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無(wú)需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

顯示A掃描的自動(dòng)回波到回波模式	顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項(xiàng)未被激活）
調(diào)整*個(gè)回波空白的手動(dòng)回波到回波模式	顯示可選波形的穿透涂層模式

用戶使用單晶軟件選項(xiàng)，可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米或0.0001英寸的極為的厚度測(cè)量?？膳c范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

大多數(shù)薄材料和厚材料
壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機(jī)加工部件
汽缸孔、渦輪葉片
玻璃燈泡、瓶子
薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器

用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測(cè)量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。

大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強(qiáng)的材料
厚鑄造金屬部件
厚橡膠輪胎、履帶
玻璃纖維船體、儲(chǔ)存罐
復(fù)合材料板
對(duì)于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）

45MG測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲(chǔ)和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)包含GageView接口程序。

數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)

內(nèi)置存儲(chǔ)容量為475000個(gè)厚度讀數(shù)，或20000個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。
32位字符的文件名稱(chēng)
20位字符的ID#（TML#）編碼
6個(gè)文件格式：遞增型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過(guò)GageView在PC機(jī)上手動(dòng)創(chuàng)建的文件格式
內(nèi)置MicroSD存儲(chǔ)卡和可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡
可以在內(nèi)置和可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡之間拷貝文件
標(biāo)準(zhǔn)型USB通訊
單晶探頭設(shè)置的雙向傳輸
機(jī)載統(tǒng)計(jì)報(bào)告
機(jī)載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
GageView接口程序可與45MG儀器通訊，方法是：
- 通過(guò)USB端口
- 讀取MicroSD存儲(chǔ)卡上的數(shù)據(jù)，或在存儲(chǔ)卡上寫(xiě)入信息
可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號(hào)分隔值）格式或.txt格式，直接導(dǎo)出到MicroSD存儲(chǔ)卡

在PC機(jī)上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過(guò)不同顏色清晰地標(biāo)明超出容差的厚度情況。

可以方便地生成并打印包含測(cè)量值、ID編碼及其它參數(shù)的測(cè)量報(bào)告。

機(jī)載數(shù)據(jù)庫(kù)柵格視圖
機(jī)載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色

GageView 接口程序

包含在數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)中
基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來(lái)自45MG測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)
創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)
編輯所存數(shù)據(jù)
顯示數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)文件。文件包含厚度讀數(shù)、測(cè)厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值
從測(cè)厚儀上下載厚度測(cè)量總結(jié)，或上傳厚度測(cè)量總結(jié)至測(cè)厚儀
將測(cè)量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其它程序
收集捕獲的屏幕
打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)及彩色柵格的報(bào)告
升級(jí)45MG軟件
下載和上傳單晶探頭設(shè)置文件

B掃描屏幕
在PC機(jī)上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過(guò)不同顏色清晰地標(biāo)明超出容差的厚度情況。

用戶使用這個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式，可以在測(cè)厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱(chēng)A掃描），核查厚度測(cè)量讀數(shù)，對(duì)增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中zui大限度地增強(qiáng)測(cè)量性能。這個(gè)極為有益的選項(xiàng)包含手動(dòng)增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、*回波空白、范圍及延遲參數(shù)。